徠卡偏光顯微鏡 DM750P 配備的物鏡通常為 2.5X-100X。其測(cè)量西藥結(jié)晶晶體顆粒大小的范圍理論上可以從幾微米到數(shù)百微米甚至更大，具體取決于所使用的物鏡倍數(shù)和目鏡測(cè)微尺的精度。

低倍物鏡（如 2.5X、10X）：適合觀察較大的晶體顆粒或晶體群體，可測(cè)量幾十微米到數(shù)百微米大小的晶體。此時(shí)能夠觀察到晶體的整體形態(tài)和分布情況，但對(duì)于較小晶體顆粒的細(xì)節(jié)分辨能力相對(duì)較弱。

高倍物鏡（如 40X、100X）：可以清晰地觀察到晶體的細(xì)微結(jié)構(gòu)和特征，能夠測(cè)量幾微米到幾十微米的晶體顆粒。在這種放大倍數(shù)下，能夠更準(zhǔn)確地測(cè)量晶體的尺寸，但觀察視野相對(duì)較小，需要花費(fèi)更多時(shí)間尋找和定位合適的晶體顆粒進(jìn)行測(cè)量。

目鏡測(cè)微尺在不同的物鏡倍數(shù)下，其每一小格所代表的實(shí)際長(zhǎng)度不同。通過(guò)事先校準(zhǔn)目鏡測(cè)微尺與實(shí)際長(zhǎng)度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，就可以根據(jù)晶體在測(cè)微尺上所占的格數(shù)來(lái)計(jì)算其大小。徠卡偏

光顯微鏡 DM750P 配合高精度的目鏡測(cè)微尺和合適的物鏡，能夠滿足大多數(shù)西藥結(jié)晶晶體顆粒大小的測(cè)量需求。